存儲(chǔ)器檢測(cè)儀基本上是采用功檢測(cè)試原理制成，為了實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試，他由生產(chǎn)圖案的專用計(jì)算機(jī)（微型機(jī)或小型機(jī)）加上接電口電路定時(shí)裝置，I/O裝置及電源燈組成。
測(cè)試團(tuán)存儲(chǔ)器是存儲(chǔ)器測(cè)試儀的核心設(shè)備，用一下測(cè)圖案和標(biāo)準(zhǔn)信息。目前，產(chǎn)生測(cè)試圖案的方法主要有：1.由專門(mén)的圖案生產(chǎn)系統(tǒng)產(chǎn)出，存入測(cè)試儀存儲(chǔ)器內(nèi)，然后輸給被測(cè)存儲(chǔ)器作為測(cè)試碼；2.由測(cè)試儀隨機(jī)產(chǎn)生測(cè)試圖案，并自動(dòng)控制測(cè)試數(shù)據(jù)的循環(huán)；3.由測(cè)試儀軟件自動(dòng)產(chǎn)生測(cè)試圖案，并控制對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試。
測(cè)試圖案存儲(chǔ)器是有測(cè)試臺(tái)內(nèi)的專用小型計(jì)算機(jī)（或維修計(jì)算機(jī)）構(gòu)成。它產(chǎn)生的測(cè)試圖案存入自己的存儲(chǔ)器中，然后由控制循環(huán)使用。接電口路包括將輸入圖案變?yōu)檩斎氩ㄐ蔚摹安ㄐ芜x擇器”，以及為實(shí)現(xiàn)輸入、輸出信息電平轉(zhuǎn)換的驅(qū)動(dòng)器以及其連接電路。定時(shí)裝置用以產(chǎn)生各種輸入波形的多路相脈沖，先同脈沖等時(shí)序信號(hào)：
在選擇或評(píng)價(jià)一臺(tái)存儲(chǔ)器測(cè)試儀時(shí)主要考慮如下幾項(xiàng)指標(biāo)：
1.測(cè)試儀的速度 測(cè)試儀的速度選用133MHz或66MHz或33MHzHAISHI 25MHz?應(yīng)當(dāng)根據(jù)所需完成測(cè)試的時(shí)間來(lái)確定。若采用快速測(cè)試儀需要12s。若采用較慢速度測(cè)試儀則要花費(fèi)2min。測(cè)試儀精度主要依賴于基準(zhǔn)測(cè)試儀的速度。
2.支持多重平臺(tái) 大多數(shù)測(cè)試儀不可能僅采用一個(gè)測(cè)試單元就能同時(shí)支持EDODRAM和PC133 SDRAM DLMM測(cè)試。應(yīng)當(dāng)了解測(cè)試儀的兼容性，將現(xiàn)有測(cè)試儀升降來(lái)滿足各種不同類型存儲(chǔ)器的測(cè)試需要。
3.配件/適配件 了解適配器的使用范圍，以確保滿足各種不同類型存儲(chǔ)器的測(cè)試需要，如Sun Spare （200）10/20/UItra、PUMCIA存儲(chǔ)器。圖形SGRAM Apple模塊，棧式集成電路存儲(chǔ)器等。
4.錯(cuò)誤信息顯示 測(cè)試儀錯(cuò)誤信息是如何顯示的，能可以提供詳盡的故障信息。是否可以與計(jì)算機(jī)通信。拓展測(cè)試儀的編程功能。
5.可編程性能 測(cè)試儀能否可以編寫(xiě)SPD程序、設(shè)置程序、測(cè)試模式程序。
6.現(xiàn)場(chǎng)更新?lián)Q代 疾患所有小型測(cè)試儀均不肯能升級(jí)到進(jìn)行高速的DDR和Rambus存儲(chǔ)器的測(cè)試。
存儲(chǔ)器測(cè)試儀鞥對(duì)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)MOS存儲(chǔ)器進(jìn)行比較嚴(yán)格的功能檢查。當(dāng)存儲(chǔ)器電路出現(xiàn)故障時(shí)，能比較準(zhǔn)確的進(jìn)行故障定位，并顯示如下的故障信息。
1.存儲(chǔ)器的故障定位信息。
2.出錯(cuò)指令地址。
3.所執(zhí)行的測(cè)試程序段名稱或程序段序號(hào)
4.被測(cè)存儲(chǔ)器的出錯(cuò)電源地址。
5.正確操作數(shù)和錯(cuò)誤操作數(shù)
這時(shí)，操作人員可以按照輸出的故障信息，更換有關(guān)存儲(chǔ)器組件，調(diào)試輔修機(jī)器。對(duì)于其他故障，如齊偶校檢錯(cuò)。動(dòng)態(tài)MOS存儲(chǔ)器刷新時(shí)限錯(cuò)等，還能輸出故障類型，為診斷、修復(fù)存儲(chǔ)器提供有效信息。他可以利用測(cè)試系統(tǒng)設(shè)置的六條命令，隨時(shí)干預(yù)測(cè)試過(guò)程，靈活地安排測(cè)試內(nèi)容和執(zhí)行方式，以診斷和定位故障。
